半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法

半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法 师小琳1,段哲民1,师义民2 (1. 西北工业大学电子工程系,陕西西安 710072;2. 西北工业大学应用数学系,陕西 西安 710072) 摘要:为了提高机载开关电源中半导体器件并联系统可靠性评估的准确性,运用经验Bayes法和经典的统计方法,研究了该系统的可靠性评估问题。分别给出了系统可靠性指标的经验Bayes估计,极大似然估计。利用Monte-Carlo方法,对两种估计结果进行了比较,结果表明,经验Bayes估计的最大绝对误差为0.07,它小于极大似然估计的最大绝对误差0.368。 关键词:半导体器件并联系统;可靠性评估