元器件应用中的用作测试负载的数字可编程电阻

图1所示的数字可编程精密电阻可在定制设计的 ATE(自动测试设备)中 用作微处理器驱动的电源负载。IC1 是一个 8 位 电流输出型 DAC,即DAC08型DAC ,它驱动电流-电压变换器 IC2A,IC2A又驱动功率 MOSFET Q1 的栅极。被测器件连接到 J1 和 J2。在工作时,来自被测器件的电流在采样电阻 R8A 和 R8B 上形成一个电压。放大器 IC2B 驱动 IC1 的基准输入端,并使反馈路径闭合。当 R8A 和 R8B 上的压降达到 Q2 的 VBE(ON) 时,晶体管 Q2 分流 Q1 的栅极驱动电流,提供过流保护功能。VO 和 IO 分别为输出