嵌入式系统/ARM技术中的TI充电器前端电路提高手机充电系统安全性 上传者：czjxy64757 2020-12-12 20:44:39上传 PDF文件 65.09KB 热度 11次 日前,德州仪器(TI)宣布推出电池充电器前端集成电路系列,这些产品能够显著提高手机或其它便携式电子设备的充电保护功能。这些2毫米×2毫米安全电路有助于保护系统免受输入过压、过流以及电池过压的影响,解决充电时由于电源峰值或采用有故障或不正确的插墙式适配器而产生的问题。 作为TI集成FET的最新bq243xx系列充电器前端电路中的首款产品,bq24314在充电器电路发生故障时能够为锂离子电池提供额外的保护。保护IC能将故障状态报告给主机处理器,如基于达芬奇技术的TI新型DM355处理器或OMAP 3系列应用处理器,这样主机处理器就能采取额外的纠错行动。 输入过压挑战 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 czjxy64757 资源：430 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
