单片机与DSP中的惠瑞捷推出纳米电子数字信号测试解决方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)针对65纳米和更小制程所生产的数字IC的晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test),推出可执行结构及功能测试的V93000纳米电子数字信号测试解决方案(Nanoelectronics Digital Solution)。新设计将能大大受惠于这套解决方案提供的深入信息,且测试的效率极高,能以最低的测试成本(CoT),加快产品的上市时间。 可插入惠瑞捷V93000测试头使用的单槽模块卡每平方公分包含的功能居有助于缩小测试系统的体积和降低成本。V93000纳米电子数字信号测试解决方案包含下列以超小型测