电子测量中的日本三井与安立合作研制出新一代色散分析仪

日本三井公司下属的研发子部门Bussan纳米科技研究院日前联合安立公司(anritsu)推出了双方合作研制的一款用于对高速光器件和元件进行测试测量的新一代色散分析仪,并在OFC2005上展出了首个原型产品。 据了解,该原型是世界上第一个能对色度色散进行实时测量的平台。色度色散能使光纤传输中光脉冲产生扭曲,导致邻近光脉冲的串扰,增加比特误码率。当传输速度增加时,色度色散的影响就变得愈发明显,并与比特速率成平方关系。举例而言,当比特速率从10Gbps增加到40Gbps的时候,比特误码率将增加16倍。因此,解决色度色散问题就成为了高速光传输领域的必要研究课题,而研制出描绘这种色度色散的仪器则是解决