电子测量中的安捷伦科技推出Agilent 4075和4076 DC RF脉冲参数测试仪

安捷伦科技宣布推出Agilent 4075和4076 DC/RF/脉冲参数测试仪,用来鉴定使用高级工艺技术(如65nm技术节点)制造的器件。通过Agilent 4075和4076,半导体测试工程师可以同时测量RF特点和DC特点,以满足当前体积日益缩小的多样化半导体器件需求,如65nm及更高工艺的超薄栅氧化物晶体管、绝缘体上硅(SOI)晶体管和高介电常数(高k)器件。 Agilent 4075和4076为精确鉴定新的器件结构提供了所需的灵活性,如超薄栅氧化物MOSFET,或通信应用中使用的高速半导体器件。这两款测试仪支持10ns短脉冲式IV测量,如高速逻辑应用中使用的SOI晶体管和高介电常数晶