显示/光电技术中的FPGA的光电抗干扰电路设计

红外密集度光电立靶测试系统是一种新型的用于测量低伸弹道武器射击密集度的测试系统,既测试无须进行任何特殊处理的金属弹丸,又可测试非金属弹丸,更有反映灵敏、精度高而稳定、操作简单、容易维护等优点,已被许多靶场投入使用。 光电靶的基本原理是:当光幕内的光通量发生足够大的变化时,光电传感器会响应这种变化而产生电信号。这就是说,一些非弹丸物体在穿过光幕时也会使得光幕内光通量发生变化以至光电传感器产生电信号。从原理上,这种现象并非异常,而对测试来讲则属于干扰。在具体靶场测试中,当干扰严重时会导致测试根本无法进行。因此,如何排除干扰,保证系统的正常运行,是一个必须解决的问题。 理论分析