基于NAND Flash控制结构复用的嵌入式存储系统研究

引言 NANDFlash具有快速访问、低功耗、抗震性、尺寸小、重量轻等特性,并且稳定性良好,即使在系统电源关闭的情况下仍可保存数据。随着技术的发展,其价格降低且容量增大,这些使得NANDFlash逐渐成为嵌入式系统的一个独立部件,系统存储的工业标准。 对Flash存储器的测试与编写,目前流行的工业方法是采用遵守IEEE-1149.1标准,又称JTAG(joint test action group)规范的边界扫描技术,运用专门的商业测试板和配套软件来完成。不论是板级还是生产线级,都有厂家提供配套的软硬件解决方案。 基于JTAG规范的Flash控制电路,使用支持边界扫描的高级微