对智能卡微控制器的分析和防御:测量CPU的电磁辐射

理论上能从测量智能卡微处理器的电磁辐射,以和差分功率分析相同的方式推出有关其内部处理的结论。小尺寸和小强度的磁场可用超导量子干涉器件SQUID(SuperconductingQuantum Interference Devices)测量,在技术上是极其复杂的。一般而言,此方法所不可或缺的有关半导体器件的内部结构的知识也不易得到。此外,IC可以在其顶上叠加数根线条以极其有效地抵御这种类型的攻击,即使测得磁场也无法确定究竟是那根线上的电流。 欢迎转载,信息来源维库电子市场网(www.dzsc.com) 来源:ks99