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电子测量中的BCI测试直接注入法

上传者: 2020-11-17 23:03:07上传 PDF文件 63.93KB 热度 20次
BCI测试法对驱动能力要求过高,而且在测试过程中与相关设备的隔离也不好,15011452-7和SAEJII1 3/3标准中规定的直接注入法的目的就是克服BCI法的这两个缺点。具体做法是将测试设备直接连接到BUT电缆上,通过一个宽带人工电源网络(Broadband Artificial Network,BAN)把RF功率注入EUT电缆,将射频能量直接耦合到被测设备中,而不干扰BUT与其传感器和负载的接口,该BAN在测试频率范围内对EUT呈现的RF阻抗可以控制。BAN在流向辅助设备的方向至少能够提供500W的阻塞阻抗。干扰信号通过一个隔直电容直接耦合到被测线上。它可以针对个别电源线或信号线进行抗扰
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