对智能卡微控制器的动态分析防护:从测试模式到用户模式的不可逆转换

所有的微处理器都有一个测试模式,那是在制造过程中检验芯片用的,即当半导体仍在晶圆片上或它们已 经被封装成了模块时用于执行内部测试程序。测试模式允许使用那些在芯片日后实际应用中严格禁止的对内 存的访问类型。出于技术原因,这种模式不可避免的需要能从EEPROM读出数据。 从测试模式向用户模式的转换必须是不可逆的,可由在芯片上采用多晶硅熔丝来实现。在这种情况下,当 电压加在芯片的(提供这一用途的)测试点上,此电压引起熔丝烧断。于是芯片用硬件转换为用户模式。通 常,这是不可逆的。然而,由于熔丝的特性可以想像到它在芯片表面上是比较大的结构,如图1所示。当覆 盖熔丝的钝化层部分被去掉后,则熔丝就可以