RFID技术中的最大磁通密度的计算

在工作状态下,变压器的温升主要是由磁心损耗和绕组的铜损引起的。为了降低变压器的温升,就必须减小变压器的铁损和铜损。变压器的总损耗与温升成正比,而与变压器的热阻成反比,可以近似地用式(6-74)表示 式中 △P∑——变压器的总损耗; △T——变压器的温升; Rth,——变压器的热阻。 磁心损耗与有效磁心体积之间存在一定的关系。设磁心损耗占变压器总损耗的一半,则最大磁心损耗密度Pcore可以表示为允许温升△T和有效磁心体积Vc,的函数如式(6-75)所示 最大磁心损耗密度nI与磁通密度峰值Bpk之间存在以下关系: 式中,C