显示/光电技术中的寄生双极型晶体管闩锁效应的影响

闩锁效应(Latch-Up Effect)。在N阱与P阱接触的地方存在着发生闩锁效应的危险。如图1中所示,存在于MOS晶体管结构中的两个寄生双极晶体管各自的基极分别与对方的集电极相连,形成了四层的晶闸管的结构。当其中一个晶体管的基-射结电压超过约0.6V时,晶问管将开启,从而导致yDD与yss短路,电路将失去功能。器件甚至可能被大电流所产生的热量所损坏。由于外延层掺杂浓度的减小,PNP晶体管基区Gummel值变小,相应的提高了PNP晶体管的电流增益。同时NPN晶体管的集电极的串联电阻Rev也会随着外延杂质浓度的降低而增加,这两个方面的变化都会使得CMOS电路对闩锁效应的免疫力下降。