基础电子中的通过设计、校准固件改善器件的S参数测量 上传者:cly_lfh 2020-11-12 14:44:19上传 PDF文件 113.37KB 热度 22次 摘要:本篇应用笔记描述了在测量元器件S参数时,如何校正和减小由测试固件引起的误差。这里提到的固件由带有SMA连接器的微带线印刷电路板(PCB)组成。文中给出了基于MAX2648 5GHz低噪声放大器的实例。 本篇应用笔记描述了在测量元器件S参数时,如何校正和减小由测试固件引起的误差。这里提到的固件由带有SMA连接器的微带线PCB组成。文中给出了基于MAX2648 5GHz低噪声放大器的实例。 测量误差 矢量网络分析仪(VNA)测量中的误差可以分为三类: 漂移误差,校准后,当测试系统性能变化时出现的误差; 漂移误差,此误差可看作随时间变化的函数; 系统误差,包 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 立即下载 用户评论 发表评论 cly_lfh 资源:430 粉丝:0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台,下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容!联系邮箱:server@dude6.com