传感技术中的CMOS集成电路瞬态电流片外电流传感器电路

随着芯片特征尺寸的缩小和电路复杂程度的增加,有阻开路和有阻桥接缺陷的数目也在增加。同时,随着器件密度、复杂性和时钟速度的增加,逻辑测试技术已不能提供足够的故障覆盖率。为了弥补传统测试方法的不足,基于静态电流(IDDQ)的测试方法被广泛使用。然而,随着深亚微米技术时代的到来,总的静态漏电流急剧增加,IDDQ测试技术受到严峻挑战,因此,需要寻找新的测试技术,而瞬态电流测试技术提供一个很好的替代或补充。这种测试方法能够检测传统测试和IDDQ测试所不能检测的缺陷。 1 IDDT测试原理 IDDT测试是一种从供电回路,通过观察被测电路所吸取的瞬间动态电流来检测故障的一种方法,被认为可以检测出