单片机与DSP中的基于PIC单片机控制的RLC智能测量仪设计

使用电子元器件时,首先需要了解其参数,这就要求能够对元器件的参数进行精确测量。采用传统的仪表进行测量时,首先要从电路板上焊开器件,再根据元件的类型,手动选择量程档位进行测量,这样不仅麻烦而且破坏了电路板的美观。经过理论分析和实验研究,采用正交采样算法,并由单片机控制实现在线测量、智能识别、量程自动转换等多种功能,可大大提高测量仪的测量速度和精度,扩大测量范围。因此这种RLC测量仪既可改善系统测量的性能,又保持了印刷电路的美观,较传统的测量仪还具有高度的智能化和功能的集成化,在未来的应用中将具有广阔的前景。 1 硬件电路设计 此测量仪硬件设计思路如图1所示。 由于PIC