基础电子中的电路老化试验箱恒温控制系统的设计

0 引 言 目前,各种电子产品应用于我们日常生活的方方面面,但是所有的电子产品都有一定的使用寿命,会随着使用时间的推移逐渐老化电路测试实验箱被广泛采用,在恒温箱温度控制系统中,一般基于单片机设计,其执行器一般采用可控硅模块,控制算法采用双位控制方法、模糊控制方法、传统:PID控制方法、模糊PID控制方法等。采用可控硅模块作为执行机构电路实现比较复杂,并且系统可靠性难以保证。采用双位控制方法控制精度比较粗糙,简单模糊控制方法控制精读同样不能保证。对于具有大时滞特性的温度控制系统,传统PID控制和模糊PID控制方法都存在参数难以调整的缺点。基于以上分析,本文提出基于固态继电器和自整定PID算