EDA/PLD中的低频数字相位(频率)测量的CPLD实现

在电子测量技术中,测频测相是最基本的测量之一。相位测量仪是电子领域的常用仪器,当前测频测相主要是运用等精度测频、PLL锁相环测相的方法。研究发现,等精度测频法具有在整个测频范围内保持恒定的高精度的特点,但是该原理不能用于测量相位。PLL锁相环测相可以实现等精度测相,但电路调试较复杂。因此,选择直接测相法作为低频测相仪的测试方法。 设计的低频测相仪,满足以下的技术指标:a .频率20-20KHz;b .输入阻抗≥100KΩ;c.相位测量绝对误差≤1度; d.具有频率测量和数字显示功能;e.显示相位读数为0度--359度。 1系统工作原理 图1 测频测相系统原理框图