电子测量中的矢量网络分析仪PNA X超越S参数测试

无论在研发还是在生产制造中,工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战。在研发过程中,更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要。生产制造过程中,需要在保持精度和最大产出率的同时,缩短测试时间和降低测试成本。 减缓压力的方法之一是使用灵活的高度综合的测试解决方案――如Agilent N5242A PNA-X微波网络分析仪。由于PNA-X的先进体系结构,它不仅提供卓越的性能和精度,而且还能针对超越与网络分析仪相关的传统散射参数(S参数)的各种测量进行配置。一些内置组件(如第二个信号源和宽带合路器)能对射频和微波器件,尤其是放大器、混频器和变频器的非线性特性进行非常精确的表征,让您对这些器