基于S参数的RF开关模型高频验证
当今集成电路的带宽不断提高,因而必须在宽频率范围内表征其性能。传统的低频参数,如电阻、电容和增益等,可能与频率有关,因此可能无法全面描述IC在目标频率的性能。此外,要在整个频率范围内表征一个复杂IC的每个参数可能是无法实现的,而使用S参数的系统级表征则可以提供更好的数据。
下载地址
用户评论
