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工业电子中的超声无损检测成像技术

上传者: 2020-11-06 04:02:45上传 PDF文件 297.82KB 热度 27次
摘 要: 超声无损检测成像技术在现代工业的很多领域中都有很重要的用途,具有非常广阔的发展前景。对扫描超声成像、超声波显像、超声全息、ALOK 法成像、相控阵法、超声显微镜、SAFT 成像、TOFD 成像、超声CT 成像的发展、原理、特点和应用做了分析,可以更好地指导实际应用,并指出了超声无损检测成像技术的发展方向。 0 引言 So ko lov 于20 世纪30 年代提出了超声波检测的早期研究,在40 年代出现的脉冲回波探伤仪器成为超声波检测技术的重要标识。20 世纪50 年代初,真正用于医学诊断的超声装置问世。60 年代末,由于电子技术、计算机技术和信号处理技术的飞速发展,声成像
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