DDR 1500 DSC 2200在高性能测试测量中的应用 上传者:a72730 2020-10-31 06:04:33上传 PDF文件 178.23KB 热度 32次 GE DDR-1500高性能测试测量分析系统不仅能够提供高精度的AD,DA能力和丰富的软件分析特性、多功能数据回放,还具备前端非标准信号处理、过滤、放大等能力。它符合在实验室标准分析测量仪器 的特性,同时可适合在各种工业现场等环境下使用。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论