抗差分故障攻击的AES密码芯片设计

针对AES的差分故障攻击(DFA)过程,总结出对AES的DFA攻击算法与攻击模型的特点,在此基础上为AES密码芯片设计了一种基于TRC校验的防护电路,并对其抗差分故障攻击的可行性进行了仿真验证。结果表明,该防护电路能够快速准确地检测出导入错误,增强了AES芯片抗DFA攻击的能力。