提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法 上传者：亚运会呀 2020-10-28 07:09:44上传 PDF文件 125.51KB 热度 9次 在实际的DFT设计中,存在对测试覆盖率有较大损害的两种情况:一种存在于数字逻辑-模拟逻辑(包括存储器)输入-输出处之阴影部分,另一种存在于特定的多芯片封装情况下未绑出的输入-输出焊垫处。二者的共同点在于:测试模式下部分逻辑的不可控或不可观测。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 亚运会呀 资源：424 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
