下一代蜂窝测试技术介绍

本文主要介绍器件测试模式的功能对测试仪器的要求,设计人员需要专用的非信令测试设备解决方案,以便顺利地引入新的非信令芯片组,最终提供全新的、更快速的测试技术。与此同时,本文将介绍如何选择正确的非信令测试解决方案,并深入分析信令和非信令测试仪器并存的局面。当芯片组集成了快速排序非信令测试模式,尤其是使用预定义的测试序列进行验证时,设计人员必须引入下一代非信令测试仪器,以便对射频参数进行测试。