TD LTE接入层安全性设计与实现

在研发时分-长期演进(TD-LTE)无线终端综合测试仪时,一致性测试有着非常重要的作用。基于此,选用规范描述语言(SDL)与树表描述语言TTCN(Tree Tabular Combine Notation)对接入层安全性的设计进行了仿真测试,提出了一种基于SDL+TTCN的测试方法。最后采用ARM Workbench IDE编译软件在ARM1176JZF-S芯片上对测试后的效果进行了验证。