用C51系列单片机设计物体分级设备的测量光幕

单片机论文用C51系列单片机设计物体分级设备的测量光幕摘要:首先介绍了光幕测量高度的原理,给出了高度测量光幕的一种实现方法,分析了由该方法设计的系统结构和主要性能。从而彻底解决了相邻通路间的干扰,提高了测量精度。关键词:单片机;测量光幕;分级1引言光幕是电子测量系统中应用比较多的一种设备。利用光幕可以测量恒速传送带上的物体高度、长度或宽度等一系列数据,以便为后面的电子系统提供相应的参数。本文给出了一种利用单片机实现物体高度测量的光幕测量方法。2光幕测量物体高度的基本原理图1所示是一个用普通光幕测量物体高度的测试原理结构示意图。图中,光幕的一边等间距安装有多个红外发射管,另一边相应的有相同数量同样排列的红外接收管,每一个红外发射管都对应有一个相应的红外接收管,且安装在同一条直线上。当同一条直线上的红外发射管、红外接收管之间没有障碍物时,红外发射管发出的调制信号(光信号)能顺利到达红外接收管。红外接收管接收到调制信号后,相应的电路输出低电平,而在有障碍物的情况下,红外发射管发出的调制信号(光信号)不能顺利到达红外接收管,这时该红外接收管接收不到调制信号,相应的电路输出为高电平。当光幕中没有物体通过时,所有红外发射管发出的调制信号(光信号)都能顺利到达另一侧的相应红外接收管,从而使内部电路全部输出低电平。这样,通过对内部电路状态进行分析就可以得出物体的高度信息。由于上下相邻光路可能会相互干扰,因此,选取的红外发光管的发射角度要小于15°,此外,考虑到光幕要有一定的宽度,因而还应对红外发射管发出的信号进行调制。但在实际制作中,上下两路总存在干扰,很难提高测量精度。为了彻底从根本上解决相邻两路的干扰问题,本文给出了一种用C51单片机及相关芯片来实现高度测量的方法。3高度测量光幕系统结构及工作过程高度测量光幕的系统