电子测量中的一种提高遥测信号处理器测试性方法

可测试性定义为:产品能及时准确地确定其状态,隔离其内部故障的设计特性,以提高产品可测试性为目的而进行的设计被称为可测试性设计。可测试性是同可靠性、维修性相并列的一门新型学科,其发展和应用对于提高产品的质量,降低产品的全寿命周期费用具有重要意义。随着集成电路设计方法与工艺技术的不断进步,集成电路的可测性已经成为提高产品可靠性和成品率的重要因素。文中针对遥测产品中信号处理器的设计原理,通过增加BIT以提高信号处理器的测试覆盖率。 1 信号处理器简介 硬件电路软件化是电路设计的发展趋势。借助大规模集成的FPGA和高效的设计软件,不仅可通过直接对芯片结构的设计实现多种数字逻辑系统功