基于Arrhenius模型快速评价功率VDMOS可靠性 上传者：planetxzs 2020-10-28 03:55:59上传 PDF文件 209.5KB 热度 9次 本文采用恒定温度应力加速寿命试验对功率VDMOS的可靠性进行了研究,得到较为完整的可靠性数据,并分析得到引起其漏源电流IDS退化的主要失效机理是栅极击穿,从而为功率VDMOS类型器件的加工制造及应用等方面提供有价值的数据。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 收藏 腾讯 微博 用户评论 发表评论 planetxzs 资源：448 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
