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全集成射频发射芯片测试及LED遥控的实现

上传者: 2020-10-28 02:51:02上传 PDF文件 433.78KB 热度 10次
介绍了一种自主研发的全集成315 MHz/433 MHz射频发射芯片的结构、工作原理及芯片测试方案,用测试板上的跳线进行地址编码,芯片编码电路的振荡及控制信号由FPGA产生,采用超再生接收电路构成LED开关遥控控制系统。测试结果表明,输出功率为9.30 dBm,频率偏差小于0.2%,达到设计要求,可为企业提供一种低成本LED控制系统方案,具有较高的应用价值。
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