嵌入式系统/ARM技术中的ARM推出先进嵌入式内存测试与修复系统 走向纳米科技时代

ARM宣布推出新款先进emBISTRx 嵌入式内存测试与修复系统。该系统与ARM Advantage以及Metro内存编译器紧密整合,而该两项内存编译器均为Artisan实体层IP系列中的一员。此款ARM推出的全工嵌入式内存子系统,整合了内建自我测试(Best-in-Self-Test, BIST)及内建自我修复(Best-in-Self-Repair, BISR)IP,使Advantage与Metro系列内存在迈入45纳米、65纳米及90纳米制程时,能提高整体芯片良率、降低芯片成本、提高获利,以及增进制造测试的品质。 ARM emBISTRxTM嵌入式内存测试和修复系统具有高速测试能力,