基于FPGA的薄膜瑕疵检测

针对现今工业薄膜生产过程中薄膜幅宽更大且生产更快的问题,提出一种基于FPGA的快速薄膜瑕疵检测系统方案。系统首先采用相关系数法准确求出薄膜灰度图像的最小重复周期,根据最小重复周期确定两个比对图像块并求出差值图像,其次将差值图像二值化再进行形态学处理,最后经过面积约束条件找出薄膜瑕疵所在位置。其中充分利用FPGA并行处理的优势,提高了图像处理的速度。实践结果表明,该系统能够在300 m/min的薄膜生产线上成功检测出瑕疵面积仅10个像素的瑕疵,在满足实时薄膜瑕疵检测的需求方面具有实际应用效果。