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USB 2.0端口的ESD保护

上传者: 2020-10-27 21:41:42上传 PDF文件 194.71KB 热度 15次
如今的电子系统中越来越多地采用以CMOS工艺制造的低功率逻辑芯片。这些芯片如果遭遇足够高的静电放电(ESD)电压,芯片内部的电介质上就会产生电弧,并在门氧化物层烧出显微镜可见的孔洞,造成芯片的永久损坏。
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