基于VXI PXI Digital I/O卡的诊断算法研究

针对目前在生产测试平台中广泛使用的高密度VXI PXI Digital I/O板卡容易损坏且故障定位困难、不便维修和维护的情况,开展了对其进行故障定位的诊断算法研究。研究了包括各种可能出现的错误模型及其相互关系,以及检测和定位这些错误模型的相应算法,并应用相应的算法成功地开发了高密度VXI PXI Digital I/O板卡的自动化诊断系统,大幅提高了生产效率,降低了维护成本,提高了经济效益。