电子测量中的Verigy 93000中直流参数的并行测试方法

摘要:本文阐述了一种在Verigy 93000 上进行直流参数测试的测试方法,并与传统方法进行了比较分析,结果表明该方法在测试中能完全并行使用硬件资源,使测试时间有效降低。 1 引言 在当前SoC 快速发展及半导体行业激烈竞争的阶段,提高测试效率、降低测试成本,是从业者需要思考和解决的课题。 Verigy 93000 是单一平台的可升级测试系统,它是满足SoC 技术全面集成需要的芯片测试系统解决方案。 本论文阐述一种测试方法使得Verigy 93000 进行直流参数测试时独立并行使用硬件资源,从而节省测试时间,提高测试效率。 2 Verigy 93000 用于DC