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电子测量中的低电压测量中常见的误差来源分析

上传者: 2020-10-27 17:15:54上传 PDF文件 178.47KB 热度 22次
热电电压(热电动势)是低电压测量中最常见的误差来源。当电路的不同部分处在不同的温度之下,或者当不同材料的导体互相接触时,通常就会产生这种热电电压,如图1所示。各种材料相对于铜的赛贝克(Seebeck)系数(QAB)列于表1。 表1 赛贝克系数 使用相同材料的导体来构建电路可以将产生的热电动势降至最低。例如,使用铜制套筒或接线片来连接铜导线,也就是形成铜 -铜的连接,将会产生最小的热电动势。而且,连接处还必须保持清洁、没有氧化物。铜制套筒与铜压制在一起的连接(又称为“冷焊接”)不会出现氧化层,这时可达到 ≤0.2μV/°C的赛贝克系数;而铜与氧化铜的连接则可能产生高达 1mV/°C的
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