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基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪的设计

上传者: 2020-10-27 17:07:49上传 PDF文件 436.58KB 热度 11次
实现了一种基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪,并能达到要求的10-3≤p≤10-10检测灵敏度。伪随机码生成器用于生成由ITU推荐的用于误码测试的伪随机序列。误码测试仪可以进行开环测试,拥有五种测试码型可以选择,而且实现了盲检测。测试的方法灵活,可测试的设备广泛,扩展性较好。
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