基于FPGA的多通道并行高速采样研究

数据采样精度和采样速率是A/D转换的重要技术指标。目前受半导体工艺技术的限制,高采样精度的A/D芯片一般具有较低的采样速率。本文提出一种时间交替ADC采样技术,通过在时域上多通道并行交替采样,使采样速率达到原来单片ADC的多倍。最后进行多路交替采样试验,结果验证了该方法的正确性。