第二届全国EDA大赛试题 上传者:weixin_61615 2020-09-20 08:16:01上传 RAR文件 349.77KB 热度 16次 第二届全国EDA大赛试题 第二届笔试题 1.(4分)请简要说明CIF,EDIF,GDSII的意义及用途。 2.(4分)在亚微米设计中,互连线的影响是十分重要的,互连线会给晶体管增加负载,是由于______、_____、_____、_____造成。从而导致信号_____、功率_____、电压_____、时间_____。 3.(4分)在亚微米设计中,电子迁移是由_____造成的。它使连线变细,最终断开,引起器件失效。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 码姐姐匿名网友 2020-09-20 08:16:02 很不错的资料,参加比赛的的同学可以好好看看 码姐姐匿名网友 2020-09-20 08:16:02 填空、选择很多,设计较少,范围比较大 码姐姐匿名网友 2020-09-20 08:16:02 题目很全。 发表评论 weixin_61615 资源:2 粉丝:0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台,下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容!联系邮箱:server@dude6.com
很不错的资料,参加比赛的的同学可以好好看看
填空、选择很多,设计较少,范围比较大
题目很全。