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第二届全国EDA大赛试题

上传者: 2020-09-20 08:16:01上传 RAR文件 349.77KB 热度 16次
第二届全国EDA大赛试题 第二届笔试题 1.(4分)请简要说明CIF,EDIF,GDSII的意义及用途。 2.(4分)在亚微米设计中,互连线的影响是十分重要的,互连线会给晶体管增加负载,是由于______、_____、_____、_____造成。从而导致信号_____、功率_____、电压_____、时间_____。 3.(4分)在亚微米设计中,电子迁移是由_____造成的。它使连线变细,最终断开,引起器件失效。
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用户评论
码姐姐匿名网友 2020-09-20 08:16:02

很不错的资料,参加比赛的的同学可以好好看看

码姐姐匿名网友 2020-09-20 08:16:02

填空、选择很多,设计较少,范围比较大

码姐姐匿名网友 2020-09-20 08:16:02

题目很全。