IC测试基本原理与ATE测试向量生成 上传者：qq_68599 2020-09-15 02:09:16上传 PDF文件 211.59KB 热度 44次 随着集成电路的飞速发展,其规模越来越大,对电路的质量与可靠性要求进一步提高,集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此,研究和发展IC测试,有着重要的意义。而测试向量作为IC测试中的重要部分,研究其生成方法也日渐重要。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
