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基于FPGA低成本数字芯片自动测试仪的完整方案

上传者: 2020-09-11 18:58:54上传 PDF文件 93.46KB 热度 10次
随着电路复杂程度的提高和尺寸的日益缩减,测试已经成为迫切需要解决的问题,特别是进入深亚微米以及高级成度的发展阶段以来,通过集成各种IP核,系统级芯片(SoC)的功能更加强大,同时也带来了一系列的设计和测试问题。
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