NI:射频集成度趋高 PXI方案显优势
在PXI TAC 上,NI 中国射频与无线通信市场开发经理 姚远 先生围绕无线技术的最新发展展开讨论,针对渐趋复杂的无线测试和不同无线设备的测试方案,深入探讨了如何通过 NI PXI测试策略的优化来提升测试效率。
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