CRT显像管电子束着屏斑点的仿真分析

本文在CST粒子工作室:trade_mark:环境下,使用静电、静磁以及粒子求解器成功地对CRT进行仿真,证明了数值仿真全管的可行性;完成了一个符合实际产品规格的,具有可控电场和可控磁场并且能够跟踪粒子轨迹的CRT仿真模型;获得了聚焦情况良好的G6、玻璃屏、椎体、框架和内屏蔽的电压设置;通过软件提供的后处理模板获得了电子束着屏统计值,借此分析了偏转系统对电子束着屏位置的影响;这些都为后续优化磁屏蔽罩奠定了基础。