光电倒置开关及其可靠性研究

在放入式电子测压器实际测试过程中,时常出现由于光电倒置开关不能正常输出上电信号而使测试系统无法工作的问题,可见光电倒置开关的可靠性直接决定了电子测压器的可靠性。为了保证电子测压器在高温、高压、高冲击的实测环境中能够正常上电,设计了一套开关可靠性检测系统,为放入式电子测压器选择光电倒置开关提供了支持。