T/R组件波束控制测试方案设计

本文提出一种测试方案。该方案简单,易于实现,充分利用FPGA丰富的IO 资源及可编程特点,很好地解决了波束控制电路测试中的难点。同时,该方法易于实现常规波控电路测试系统的通用性,仅仅需要定义好测试系统转接部分的输入接口,以及编写不同的发送和接收程序,便可实现常规波控电路的通用性。