汽车电子MCU的抗EMI设计与测试方案

对于微电子行业来说,芯片级电磁兼容性的设计与测试已经成为一个非常重要的主题。实际上,如果不对集成电路电磁辐射及抗扰度方面进行深入的研究,就很难满足电子设备电磁兼容性方面的需要。本文通过对设计方法的引入,并进一步通过测试方案去总结归纳影响电磁发射的因素和原因,从而间接证明了设计方法的必要性和重要性。