生产制造中的实用的低功耗测试方法 上传者：sb67491 2020-08-30 03:37:00上传 PDF文件 90KB 热度 20次 随着器件物理尺寸的不断缩小和电压门限的不断降低,越来越多的人认识到测试过程中过大的功耗会影响数字IC的可靠性,并导致电源引起的故障、过早失效,以及最终测试时发生错误问题。这些现象的发生要求制造测试采用特殊的电源管理和低功率设计技术。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
