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IC测试数据常用的一些统计算方法2.docx

上传者: 2020-08-19 02:01:42上传 DOCX文件 57.46KB 热度 27次
IC测试数据常用的一些统计算方法:最小值、最大值、平均值、均方差这四个常用的统计值虽然比较普通,但它们可能是后面的一些统计算法的基础,所以在此进行简单介绍。 最小值(Min):针对某个测试参数,一批测试数据中的最小值 最大值(Max):针对某个测试参数,一批测试数据中的最大值 平均值(Mean):针对某个测试参数,一批测试数据的平均值 标准差(Statistical Standard Deviation):又常称均方差,是离均差平方的算术平均数的平方根,用σ表示。标准差是方差的算术平方根。标准差是一组数据平均值分散程度的一种度量。一个较大的标准差,代表大部分数值和其平均值之间差异较大;一个较小
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