测量电子中微子截面的新技术

目前,绝对中微子截面的测量受到ν通量不确定性的限制。 在本文中,我们提出了一种基于在衰减隧道中重建大角度正电子的技术,以识别三体半轻子K +→e +π0νe衰减。 这种以正电子计数模式(“事件计数模式”)运行的标记工具可用于确定中微子检测器的绝对νe通量,精度为O(1%)。 还讨论了在“逐个事件标记模式”下运行的设施,即利用中子在源处的时间重合和探测器处的VE相互作用的标记中微子束。