基于LabVIEW的三极管老化测试系统设计 上传者：qq_62224 2020-08-14 19:39:47上传 PDF文件 766.7KB 热度 17次 针对电子元器件的这种情况,我们开发了一种老化测试系统,可以主要针对功率器件(功率三极管、VDMOS,IGBT等),通过有规律给元器件通电和断电,循环施加电应力和热应力,检验其承受循环应力的能力。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
